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第三十三章 龙国的第一个纳米级芯片（第2页）

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“哦哦，汪伟是吧，很好很好，欢迎回国，有机会希望你能加入我们研究院”

陈如龙说话间全是敷衍，他现在的重心全在李正民身上。

但是汪伟好似没有感觉到一般，心里洋洋得意的，现在就连研究院的陈副院长都来了，难道今天就是他发达之路？

而当陈如龙也看到了李正民手上那60纳米的芯片陷入了沉默。

李正民此时已经把芯片连接上了他面前的测试仪器上，上面满满的都是数字仪表。

“李小子，你这是？”

陈如龙看着这副模样不难猜测，但是他还是问了。

而不等李正民回答，旁边的汪伟抢先道。

“副院长，这人要糊弄我们，被我认出来之后，被我逼着过来测试呢”

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“李正民先生，我们开始测试吧”

汪伟催促道。

现在在场站着的都是大佬，他已经等不及了，他要狠狠的站出来指出李正民的问题。

而之前之前吐槽李正民的那些学生，现在看着那一个个大佬站在自己面前，一个个不敢说话，如同一个个鹌鹑一样。

但是人群中以旧有人不信，那么小的芯片那还是芯片吗？

纷纷等着看芯片的测试结果。

陈如龙瞥了一眼汪伟，这小子怎么回事啊...但是看着李正民那认真准备的状态，他也不好打扰。

李正民捣鼓了几分钟之后终于结束，呼出一口，直接按下了他面前的测试按钮。

芯片测试是指在芯片制造完成后，通过一系列的物理和电气测试，以确保芯片的功能和性能符合设计规格，同时发现并排除任何可能存在的缺陷或问题。

是保证芯片质量和可靠性的重要环节，包括功能测试、性能测试、可靠性测试等多个方面。

例如时钟频率、功耗、电源电流等参数。

总之，芯片测试是保证芯片质量和可靠性的重要环节，需要经过多个环节的测试和验证，以确保芯片能够满足设计要求和使用要求。

经过晶圆测试，封装测试和系统级测试三个测试之后。

众人看着李正民手上的那枚芯片纷纷脸色大变，王卫国跟陈如龙纷纷激动起来。

因为他们看到，李正民手上的那枚芯片的测试数值是米国所透露出他们最新芯片数据的十几倍！

甚至是几十倍不止！

汪伟看着一脸不可置信，好似看到了大恐怖一般，在众人不注意的时候冲了上去。

夺过了李正民手上的那枚，嘴里重复着“不可能，不可能，这怎么可能？”

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